熒光探傷是無(wú)損探傷法中的一種，它是使用含有熒光增白劑等熒光染料的探傷劑來(lái)探測非致孔性固體表面開(kāi)口缺陷的一種方法。

　　熒光探傷的原理：固體表面開(kāi)口缺陷，無(wú)論是裂縫還是針孔，都具有毛細現象，當含熒光增白劑的液體介質(zhì)運動(dòng)到缺陷處時(shí)，由于開(kāi)口缺陷通常是比較小的，所以在工件表面清洗殘液介質(zhì)時(shí)，缺陷內的液體仍能保留而不被洗去，清洗干燥后的工件施加顯像劑，顯像劑能將殘留在缺陷內的液體吸附至表面，在紫外燈下觀(guān)察工件，有缺陷處將會(huì )顯示出熒光。這種熒光探傷法與其他無(wú)損傷探傷法相比，具有設備簡(jiǎn)單、操作方便、現象明顯、費用低、效率高等特點(diǎn)。